Introducción al Empacado Avanzado de Semiconductores

Inicio:Noviembre 2026
Duración:4-6 meses
Precio:900€
  • Packaging avanzado: 2.5D/3D, chiplets, TSV/RDL, térmica, fiabilidad, pruebas y casos reales de industria.

Descripción

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Plan de estudios

1. Introducción al Packaging

  • ¿Qué es el empaquetado y por qué es crítico?
  • Funciones: protección, señal, potencia, térmica.
  • Evolución histórica: DIP → BGA → WLP → 2.5D/3D.

2. Materiales y estructuras

  • Substratos orgánicos vs cerámicos.
  • Underfill, molding, pastas térmicas.
  • Bolas de soldadura (solder balls), bumps.
  • Interposers de silicio y vidrio.

3. Técnicas de interconexión

  • Wire bonding (oro, aluminio).
  • Flip-chip: bumps, soldadura por refusión.
  • TSV (Through-Silicon Via).
  • Redistributed Layers (RDL).

4. Tecnologías avanzadas de integración

  • 2.5D packaging: Interposer + múltiples chips; rutas de señal y potencia.
  • 3D stacking: Apilado vertical; TSVs y thermal throttling.
  • Chiplets: Arquitecturas modulares; estándares emergentes (UCIe); ventajas económicas y de rendimiento.

5. Gestión térmica

  • Análisis térmico básico.
  • Spreaders, heat sinks y TIMs.
  • Simulación vs medición real.

6. Fiabilidad y pruebas

  • Fatiga térmica.
  • Warpage y cracking.
  • Pruebas: X-ray, SAT, shear test.
  • Causas comunes de fallo en packaging avanzado.

7. Casos reales de la industria

  • Apple M-series (SoC + memoria).
  • GPUs modernas (HBM y interposers).
  • Automoción y requisitos AEC.

8. Ejercicios y autoevaluación

  • Identificación de estructuras.
  • Preguntas de comprensión.
  • Análisis de fallos típicos.

Curso L3 — Fundamentos de Fiabilidad Automotriz (AEC-Q100)

Plan de estudios

1. Introducción a la fiabilidad automotriz

  • Qué significa “fiabilidad”.
  • Perfil del entorno automotriz.
  • Normativas clave: AEC-Q100, ISO 26262.

2. Mecanismos de fallo en semiconductores

  • Electromigración.
  • Hot Carrier Injection.
  • Bias Temperature Instability (BTI).
  • Fatiga térmica y delaminaciones.
  • ESD y EOS.

3. Fundamentos de la norma AEC-Q100

  • Organización de la norma.
  • Clasificación por temperatura (A/B/C/D).
  • Criterios de aceptación y lotes.

4. Pruebas aceleradas

  • HTOL (High Temperature Operating Life).
  • HAST / THB (humedad y temperatura).
  • TC (Thermal Cycling).
  • ESD testing (HBM, CDM).
  • Latch-up testing.
  • Preconditioning (MSL, reflow).

5. Fiabilidad física del encapsulado

  • Warpage.
  • Cracking por humedad.
  • Interface del molde.
  • Pruebas típicas de packaging.

6. Interpretación de reportes y datos

  • Curvas Weibull.
  • Distribuciones de fallo.
  • Early life failure vs desgaste.
  • Screening y burn-in.

7. Casos reales

  • Fallos en automoción eléctrica.
  • Degradación en MOSFETs de potencia.
  • ADAS: fallos funcionales por temperatura.
  • Microcontroladores automotrices.

8. Diseño para fiabilidad (DFR)

  • Márgenes térmicos.
  • Derating eléctrico.
  • Layout seguro.
  • Validación del diseño.

9. Ejercicios y autoevaluación

  • Diagnóstico de fallos.
  • Interpretación de requisitos AEC.
  • Test final.

Acceso

Salidas profesionales

Titulación certificada

Equivalencia Internacional

Por su contenido y duración, estos cursos tienen la siguiente equivalencia a nivel internacional:

  • EQF 2 (Marco Europeo): Nivel de iniciación.
  • MBO 1–2 (Países Bajos): Previa a la formación técnica real.
  • USA / Community College: "Pre-engineering exposure programs".

Industria: Nivel cero, equivalente a cursos introductorios usados como "pre-aprendizaje" antes de acceder a formaciones técnicas.

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